日本乱子伦XXXX,一本之道高清无码视频,欧美一区二区欧美一区二区,日本不卡在线视频二区三区

返回首頁 在線訂單 聯(lián)系我們

服務熱線:02158951091

產(chǎn)品分類
技術文章
當前位置:首頁 > 技術文章
Niton 分析儀X 射線熒光技術信息
點擊次數(shù):34 更新時間:2025-07-04
Niton 分析儀依托前沿的能量色散 X 射線熒光(EDXRF)技術,構建起一套完整且智能的元素分析生態(tài)系統(tǒng)。該技術以物理學中的光電效應和特征 X 射線理論為基石,當儀器發(fā)射的高能初級 X 射線束精準轟擊樣品表面時,元素原子內(nèi)層電子因獲得足夠能量被激發(fā)產(chǎn)生空穴,外層電子隨即躍遷填補,在此過程中釋放出具 "指紋" 特征的 X 射線熒光。


儀器配備的高分辨率硅漂移探測器(SDD)采用半導體材料制成,具備納米級的能量分辨率和超快響應速度,能夠精準捕捉這些微弱的能量信號。在 Axon 技術平臺的加持下,通過智能算法對原始數(shù)據(jù)進行實時降噪處理,利用機器學習模型對復雜光譜進行解卷積分析,從而有效消除元素譜線重疊干擾


上一篇 尼通Niton手持式分析儀信息 下一篇 API XD激光干涉儀工件測量方法信息